GB/T 10987-2009 光学系统 参数的测定
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来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 光学系统 参数的测定 |
| 英文名称： | Optical systems—Determination of parameters |
| 中标分类： |
仪器、仪表 >>
光学仪器 >>
光学测试仪器 |
| ICS分类： |
成像技术 >>
光学设备
|
| 替代情况： | 替代GB/T 10987-1989 |
| 发布部门： | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： | 2009-09-30 |
| 实施日期： | 2009-12-01 |
| 首发日期： | 1989-03-31 |
| 作废日期： | |
| 主管部门： | 中国机械工业联合会 |
| 提出单位： | 中国机械工业联合会 |
| 归口单位： | 全国光学和光子学标准化技术委员会 |
| 起草单位： | 全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC 103) |
| 起草人： | 冯琼辉、章慧贤 |
| 出版社： | 中国标准出版社 |
| 出版日期： | 2009-12-01 |
| 页数： | 12页 |
| 计划单号： | 20065432-T-604 |
适用范围
本标准规定了光学系统焦距、视场、放大率和孔径（相对孔径和数值孔径）四项光学参数的测量方法、测量装置和测量的基本要求。
本标准适用于在可见光谱区应用的显微镜、望远镜以及照相、投影、制版物镜等光学参数的测量。
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所属分类： 仪器 仪表 光学仪器 光学测试仪器 成像技术 光学设备
【英文标准名称】:StandardTestMethodforThermalConductivityofSolidsbyMeansoftheGuarded-Comparative-LongitudinalHeatFlowTechnique
【原文标准名称】:通过隔绝-比较-轴向热流技术测定固体导热性的标准试验方法
【标准号】:ASTME1225-2004
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2004
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E37.05
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:热力工程;试验;导热性;固体
【英文主题词】:
【摘要】:Thecomparativemethodofmeasurementofthermalconductivityisespeciallyusefulforengineeringmaterialsincludingceramics,polymers,metalsandalloys,refractories,carbons,andgraphitesincludingcombinationsandothercompositeformsofeach.Properdesignofaguarded-longitudinalsystemisdifficultanditisnotpracticalinamethodofthistypetotrytoestablishdetailsofconstructionandprocedurestocoverallcontingenciesthatmightofferdifficultiestoapersonwithouttechnicalknowledgeconcerningtheoryofheatflow,temperaturemeasurements,andgeneraltestingpractices.Standardizationofthistestmethodisnotintendedtorestrictinanywaythefuturedevelopmentbyresearchworkersofnewormethodsorimprovedprocedures.However,neworimprovedtechniquesmustbethoroughlytested.RequirementsforqualifyinganapparatusareoutlinedinSection10.1.1Thistestmethoddescribesasteadystatetechniqueforthedeterminationofthethermalconductivity,,ofhomogeneous-opaquesolids(seeNote1andNote2).Thistestmethodisformaterialswitheffectivethermalconductivitiesintheapproximaterange0.2200W/(mK)overtheapproximatetemperaturerangebetween90and1300K.Itcanbeusedoutsidetheserangeswithdecreasedaccuracy.Note0Forpurposesofthistechnique,asystemishomogeneousiftheapparentthermalconductivityofthespecimen,A,doesnotvarywithchangesofthicknessorcross-sectionalareabymorethan5%.Forcompositesorheterogeneoussystemsconsistingofslabsorplatesbondedtogether,thespecimenshouldbemorethan20unitswideand20unitsthick,respectively,whereaunitisthethicknessofthethickestslaborplate,sothatdiameterorlengthchangesofone-halfunitwillaffecttheapparentAbylessthan5%.Forsystemsthatarenon-opaqueorpartiallytransparentintheinfrared,thecombinederrorduetoinhomogeneityandphotontransmissionshouldbelessthan5%.Measurementsonhighlytransparentsolidsmustbeaccompaniedwithinfraredabsorptioncoefficientinformation,ortheresultsmustbereportedasapparentthermalconductivity,A.Note2Thistestmethodmayalsobeusedtoevaluatethecontactthermalconductance/resistanceofmaterials.1.2Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyconcerns,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:A42
【国际标准分类号】:
【页数】:8P.;A4
【正文语种】:
【英文标准名称】:Testingofceramicandbasicmaterials.Directdeterminationofmassfractionsofimpuritiesinpowdersandgranulesofsiliconcarbidebyinductivelycoupledplasmaopticalemissionspectrometry(ICPOES)withelectrothermalvaporisation(ETV)
【原文标准名称】:陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
【标准号】:BSEN15991-2011
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2011-02-28
【实施或试行日期】:2011-02-28
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:陶瓷;制陶业;化学分析和测试;电热的;发射分光光度测定法;蒸发;粒状;感应耦合等离子体(ICP);杂质;电感耦合等离子体;实验室间试验;质量浓度;材料;材料测试;测量仪器;发射光谱法;光学发射光谱法;粉状的;原材料;试剂;抽样方法;碳化硅;分光计;试验报告;测试;痕量元素分析;痕量元素
【英文主题词】:Ceramic;Ceramics;Chemicalanalysisandtesting;Electrothermal;Emissionspectrophotometry;Evaporation;Granular;ICP;Impurities;InductivelyCoupledPlasma;Inter-laboratorytests;Massconcentration;Materials;Materialstesting;Measuringinstruments;OES;OpticalEmissionSpectroscopy;Powdery;Rawmaterials;Reagents;Samplingmethods;Siliconcarbide;Spectrometers;Testreports;Testing;Traceelementanalysis;Traceelements
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q30
【国际标准分类号】:81_060_10
【页数】:32P;A4
【正文语种】:英语
